特許
J-GLOBAL ID:201803008957057345

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 平木 祐輔 ,  藤田 節 ,  渡辺 敏章
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-252913
公開番号(公開出願番号):特開2018-105739
出願日: 2016年12月27日
公開日(公表日): 2018年07月05日
要約:
【課題】測定に使用される各波長の光に関して、光軸及び光量分布の違いを小さくすることが可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】自動分析装置は、中心波長が340nm以下の光を発生する光源と、前記光源の光によって励起されて発光し、前記光源の透過光と合わせて波長340nm〜800nmの光を発生する蛍光体と、集光レンズと、少なくとも1つのスリットと、試料と試薬とが混合した反応溶液を保持し、前記光源からの光と前記蛍光体からの光が入射する反応セルと、前記反応セルを透過した光を検出する検出器とを備え、前記光源と前記蛍光体と前記集光レンズと前記スリットが、光軸と一致する直線に沿って配置されており、前記スリットの開口部の幅は、前記スリットの位置における前記光源の像を作る光線の幅以下である。【選択図】図2
請求項(抜粋):
中心波長が340nm以下の光を発生する光源と、前記光源の光によって励起されて発光し、前記光源の透過光と合わせて波長340nm〜800nmの光を発生する蛍光体と、集光レンズと、少なくとも1つのスリットと、試料と試薬とが混合した反応溶液を保持し、前記光源からの光と前記蛍光体からの光が入射する反応セルと、前記反応セルを透過した光を検出する検出器とを備え、 前記光源と前記蛍光体と前記集光レンズと前記スリットが、光軸と一致する直線に沿って配置されており、 前記スリットの開口部の幅は、前記スリットの位置における前記光源の像を作る光線の幅以下である、自動分析装置。
IPC (5件):
G01N 21/01 ,  G01N 35/00 ,  G01N 21/27 ,  G01N 21/59 ,  G01J 3/10
FI (5件):
G01N21/01 D ,  G01N35/00 F ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/59 Z ,  G01J3/10
Fターム (34件):
2G020AA03 ,  2G020AA04 ,  2G020BA02 ,  2G020CA02 ,  2G020CB27 ,  2G020CB42 ,  2G020CB43 ,  2G020CB51 ,  2G020CC05 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD24 ,  2G058GA03 ,  2G058GE08 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB13 ,  2G059DD05 ,  2G059DD12 ,  2G059DD13 ,  2G059DD17 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059GG02 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM10
引用特許:
出願人引用 (3件)

前のページに戻る