特許
J-GLOBAL ID：201803009872469055
異常予測方法、異常予測装置、異常予測システムおよび異常予測プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-034028
公開番号（公開出願番号）：特開2018-139085
出願日： 2017年02月24日
公開日（公表日）： 2018年09月06日
要約：
【課題】未来に異常が発生するかどうかの予測を行うこと。【解決手段】異常予測装置10は、監視対象設備のセンサによって収集された時系列のデータであるプロセスデータから、所定の時間幅Waである分析フレームに含まれるプロセスデータを抽出する。そして、異常予測装置10は、抽出されたプロセスデータを入力として、監視対象設備の異常を予測するための学習モデルを用いて、所定の時点から所定時間後の時点について、異常が発生する確からしさを表す中間的な評価値であるフレーム異常評価値を算出する。そして、異常予測装置10は、算出された複数のフレーム異常評価値に基づいて、所定の時点から所定時間後の時点において異常が発生する確からしさを表す最終的な評価値である異常予測評価値を算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
異常予測装置によって実行される異常予測方法であって、
監視対象設備のセンサによって収集された時系列のデータであるプロセスデータから、所定の時間幅である第一の時間幅に含まれるプロセスデータを抽出する抽出工程と、
前記抽出工程によって抽出されたプロセスデータを入力として、前記監視対象設備の異常を予測するための学習モデルを用いて、所定の時点から所定時間後の時点について、異常が発生する確からしさを表す中間的な評価値であるフレーム異常評価値を算出するフレーム異常評価値算出工程と、
前記フレーム異常評価値算出工程によって算出された複数のフレーム異常評価値に基づいて、前記所定の時点から所定時間後の時点において異常が発生する確からしさを表す最終的な評価値である異常予測評価値を算出する異常予測評価値算出工程と
を含んだことを特徴とする異常予測方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (16件)：
3C223AA01
, 3C223AA11
, 3C223AA23
, 3C223BA01
, 3C223CC01
, 3C223DD01
, 3C223EA10
, 3C223EB01
, 3C223FF12
, 3C223FF26
, 3C223FF42
, 3C223FF52
, 3C223HH02
, 3C223HH03
, 3C223HH08
, 3C223HH22
