特許
J-GLOBAL ID：201803010115371305
画像処理装置、方法およびプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人太陽国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-175338
公開番号（公開出願番号）：特開2018-038638
出願日： 2016年09月08日
公開日（公表日）： 2018年03月15日
要約：
【課題】散乱線除去グリッドに起因する周波数成分を低減する画像処理装置、方法およびプログラムにおいて、放射線検出器への到達線量が少なくても、グリッドに起因する周期的パターンの周波数成分を求める。【解決手段】画像取得部31が、第1および第2の放射線検出器から、第1および第2の放射線画像を取得する。第1の周波数解析部32が、第1の放射線画像についての第1の周波数成分(f1x,f1y)を検出する。位置合わせ部33が、第1の放射線画像と第2の放射線画像との空間的な対応関係を取得する。第2の周波数解析部34が、第1の周波数成分(f1x,f1y)を対応関係に基づいて補正して、第2の放射線画像についての第2の周波数成分(f2x,f2y)を算出する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
放射線源から発せられて被写体を透過した放射線を、該被写体を透過した散乱線を除去するための散乱線除去グリッドを介して、重ねられた2つの検出手段に照射することにより取得された2つの放射線画像を取得する画像取得手段と、
前記2つの放射線画像のうち、前記放射線源に近い側にある第1の検出手段により取得された第1の放射線画像から、該第1の放射線画像についての、前記散乱線除去グリッドに起因する周期的パターンの周波数成分である第1の周波数成分を検出する第1の周波数解析手段と、
前記第1の放射線画像と、前記2つの放射線画像のうち、前記放射線源から離れた側にある第2の検出手段により取得された第2の放射線画像との空間的な対応関係を取得する位置合わせ手段と、
前記第1の周波数成分を前記対応関係に基づいて補正して、前記第2の放射線画像についての、前記散乱線除去グリッドに起因する周期的パターンの周波数成分である第2の周波数成分を算出する第2の周波数解析手段とを備えたことを特徴とする画像処理装置。
IPC (1件)：
FI (3件)：
A61B6/00 350S
, A61B6/00 350N
, A61B6/00 300J
4C093AA01
, 4C093CA07
, 4C093CA08
, 4C093CA35
, 4C093EB13
, 4C093EB17
, 4C093EB24
, 4C093EB28
, 4C093FC13
, 4C093FC16
, 4C093FD05
, 4C093FD11
, 4C093FD12
, 4C093FF09
, 4C093FF12
, 4C093FF13
, 4C093FF21
, 4C093FF34
, 4C093FF36
, 4C093FF37
