特許
J-GLOBAL ID：201803010191830696
磁場計測装置、磁場計測装置の調整方法、および磁場計測装置の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
渡辺 和昭
, 西田 圭介
, 仲井 智至
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-132273
公開番号（公開出願番号）：特開2018-004462
出願日： 2016年07月04日
公開日（公表日）： 2018年01月11日
要約：
【課題】磁場発生部に対する磁気センサーアレイの相対的な位置の調整を簡便とする、磁場計測装置、磁場計測装置の調整方法、および磁場計測装置の製造方法を提供すること。【解決手段】本発明の磁場計測装置100は、複数の磁気センサー121を含む磁気センサーアレイ120と、磁場発生部131と、磁場発生部131により磁場Bz1を発生させたときの、2つの磁気センサー121間の磁気出力の差を解消させる、磁場発生部131に対する磁気センサーアレイ120の相対的な位置の演算を行う演算部105と、を有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1の磁気センサーおよび第2の磁気センサーを含む磁気センサーアレイと、
磁場発生部と、
前記磁場発生部により磁場を発生させたときの、前記第1の磁気センサーおよび前記第2の磁気センサーの磁気出力の差を解消させる、前記磁場発生部に対する前記磁気センサーアレイの相対的な位置の演算を行う演算部と、を有する磁場計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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