特許

J-GLOBAL ID：201803010612481432

線量を低減させたX線撮像の方法及びシステム

発明者： ザーイ・ヴィン ,  ロイ・アルヌルフ・ヘルゲ・ニールセン ,  ジャフア・ファン ,  トマス・マッシュー・ベンソン ,  ブルーノ・クリスティアン・バナード・デ・マン ,  ジェッド・ダグラス・パック ,  カイ・ゼン
出願人/特許権者： ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
代理人 (6件)： 荒川 聡志 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久 ,  田中 拓人 ,  小島 猛 ,  澤木 亮一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-169505
公開番号（公開出願番号）：特開2016-195928
特許番号：特許第6276350号
出願日： 2016年08月31日
公開日（公表日）： 2016年11月24日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 計算機式断層写真法(CT)イメージング・システムでの画像データ取得の方法であって、 撮像容積の周りで前記CTイメージング・システムのX線源を少なくとも1回全回転させるステップと、 前記全回転のうち半走査に対応する第一の部分が、前記全回転のうちの前記第一の部分を除く残りの第二の部分及び第三の部分よりも低い線量となるように、入状態と切状態との間で前記X線源を交番させるようにX線源電圧を制御して前記全回転の間に前記X線源の動作電流を変調するステップと、 前記撮像容積の周りでの前記X線源の前記回転中に全走査に対応する画像データを取得するステップであって、半走査ビュー範囲の外部のビュー範囲である前記第二の部分及び前記第三の部分については、散在型ビュー又は不完全ビューを取得するステップと、 を備えている、方法。

IPC (2件)：

A61B 6/03 ( 200 6.01) ,  G01N 23/046 ( 201 8.01)

FI (4件)：

A61B 6/03 330 B ,  A61B 6/03 330 C ,  A61B 6/03 ZDM ,  G01N 23/04 320

引用特許：

出願人引用 (1件)

• X線診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-101404   出願人：株式会社日立メディコ

審査官引用 (1件)

• X線診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-101404   出願人：株式会社日立メディコ