特許
J-GLOBAL ID：201803012662901630
測定システム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
早川 誠志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-143776
公開番号（公開出願番号）：特開2018-013432
出願日： 2016年07月21日
公開日（公表日）： 2018年01月25日
要約：
【課題】より高い精度で測定対象の特性が得られる測定システムを提供する。【解決手段】波形データ取得手段31によって新規に取得された波形データWxから測定対象1の特性を特性検出手段40により求め、波形データWxとデータベース51に登録されている参照用波形データWrとを波形照合手段52により照合し、波形データWxに一致する参照用波形データWrが登録されていると判定された場合には、その参照用波形データWxに対応してデータベース51に登録されている特性Erを測定結果として表示する。また、波形データWxに一致する参照用波形データがデータベースに登録されていないと判定された場合には、波形データWxに対して得られた特性Exを測定結果として表示するとともに、その波形データWxと特性Exを、参照用波形データおよびそれに対応する特性としてデータベース51に新規登録する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象が出力する信号を受け、前記測定対象の特性を解析するために必要な波形データを取得する波形データ取得手段(31)と、
前記波形データ取得手段によって新規に取得された新規取得波形データから、前記測定対象の特性を求める特性検出手段(40)と、
前記新規取得波形データと照合するための参照用波形データと、該参照用波形データから特定される前記測定対象の特性とが対応付けされて登録されるデータベース(51)と、
前記新規取得波形データと前記データベースに登録されている前記参照用波形データとを照合する波形照合手段(52)と、
前記波形照合手段により、前記新規取得波形データに一致する参照用波形データが前記データベースに登録されていると判定された場合には、当該参照用波形データに対応して前記データベースに登録されている特性を、前記新規取得波形データに対する解析結果とし、前記新規取得波形データに一致する参照用波形データが前記データベースに登録されていないと判定された場合には、前記新規取得波形データに対して前記特性検出手段で得られた特性を当該新規取得波形データに対する解析結果とする解析結果決定手段(53)と、
前記波形照合手段により、前記新規取得波形データに一致する参照用波形データが前記データベースに登録されていないと判定された場合に、前記新規取得波形データと、当該新規取得波形データに対して前記特性検出手段で得られた特性とを、新たな参照用波形データおよびそれに対応する特性として前記データベースに新規登録する登録手段(54)と、
前記解析結果決定手段で決定された解析結果を測定対象についての測定結果として表示する測定結果表示手段(34)とを備えたことを特徴とする測定システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (3件)：
2G086BB01
, 2G086KK01
, 2G086KK02
