特許

J-GLOBAL ID：201803013139345479

超音波診断装置

発明者： 大村 恵介
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-152467
公開番号（公開出願番号）：特開2018-019869
出願日： 2016年08月03日
公開日（公表日）： 2018年02月08日
要約：

【課題】超音波を送受することにより得られた複数チャンネルの信号の中から抑圧処理の対象を特定する。【解決手段】重み付け処理部30は、複数チャンネルの信号を重み付け処理することにより各チャンネルごとに重み付け処理後の処理信号を得る。重み付け処理部30は、サイドローブの抑制などを目的としたアポダイゼーションを行う。抑圧処理部40は、複数チャンネルのうちの少なくとも1つの代表チャンネルの処理信号と各チャンネルの処理信号とを比較することにより、複数チャンネルの処理信号の中から抑圧処理の対象となる処理信号を特定する。抑圧処理部40における比較により、例えば超音波の多重反射などの影響を受けた例外的な処理信号が抑圧処理の対象として特定される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

超音波を送受することにより得られた複数チャンネルの信号を重み付け処理することにより各チャンネルごとに処理信号を得る重み付け処理部と、 前記複数チャンネルのうちの少なくとも1つの代表チャンネルの処理信号との比較により、前記複数チャンネルの処理信号の中から抑圧処理の対象となる処理信号を特定する抑圧処理部と、 を有する、 ことを特徴とする超音波診断装置。

IPC (1件)：

A61B 8/14

FI (1件)：

A61B8/14

Fターム (6件)：

4C601BB06 ,  4C601EE04 ,  4C601GB04 ,  4C601HH25 ,  4C601JB36 ,  4C601JB40