特許

J-GLOBAL ID：201803013897928310

微小粒子測定装置、情報処理装置及び情報処理方法

発明者： 田原 克俊
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 渡邊 薫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016080653
公開番号（公開出願番号）：WO2017-126170
出願日： 2016年10月17日
公開日（公表日）： 2017年07月27日
要約：

微小粒子の特性を光学的に測定する微小粒子測定において、出力レベルの差を精度高く補正する技術を提供すること。 本技術では、所定の波長域幅の蛍光を発する蛍光基準粒子からの光を検出する検出部と、前記検出部により検出された出力パルスの特徴量と前記出力パルスの特徴量が検出された際の前記検出部の制御信号とを基にして、所定の出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を特定する情報処理部と、を備え、前記出力パルスの特徴量は、前記検出部の制御信号に依存する値である、微小粒子測定装置などを提供する。

請求項（抜粋）：

所定の波長域幅の蛍光を発する蛍光基準粒子からの光を検出する検出部と、 前記検出部により検出された出力パルスの特徴量と前記出力パルスの特徴量が検出された際の前記検出部の制御信号とを基にして、所定の出力パルスの特徴量に対応する加電圧係数と前記検出部の制御信号との関係を特定する情報処理部と、 を備え、 前記出力パルスの特徴量は、前記検出部の制御信号に依存する値である、微小粒子測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/14 ,  C12M 1/34

FI (3件)：

G01N15/14 L ,  G01N15/14 D ,  C12M1/34 B

Fターム (32件)：

2G043AA03 ,  2G043AA04 ,  2G043CA04 ,  2G043CA06 ,  2G043DA02 ,  2G043DA05 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043EA13 ,  2G043EA14 ,  2G043EA15 ,  2G043FA06 ,  2G043HA15 ,  2G043JA04 ,  2G043JA05 ,  2G043KA02 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043LA03 ,  2G043MA12 ,  2G043NA01 ,  2G043NA04 ,  2G043NA06 ,  2G043NA11 ,  2G043NA12 ,  2G043NA13 ,  4B029AA07 ,  4B029BB01 ,  4B029BB20 ,  4B029CC01 ,  4B029FA02 ,  4B029FA15