特許
J-GLOBAL ID：201803014255140244
ナノ粒子特性のスクリーニング
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 憲司
, 杉村 光嗣
, 高橋 林太郎
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-557926
公開番号（公開出願番号）：特表2018-524555
出願日： 2016年04月29日
公開日（公表日）： 2018年08月30日
要約：
ナノ粒子の物理的特性の決定を可能にするナノ粒子スクリーニングチップおよび当該チップの使用方法であって、当該ナノ粒子スクリーニングチップは、複数の領域に分割された作用面を有する基板を備え、(1)各領域は表面エネルギー成分(d、b、a)で規定される異なる表面特性を示し、各領域の表面の全自由エネルギーγTOTはγTOT=γLW+2(γ+γ-)0.5で定義され、各成分はγLW=分散成分=d、γ+=電子受容体成分=b、γ-=電子供与体成分=aであり、(2)各領域は複数の副領域を含み、各副領域は、異なる開口サイズ(S1、S2、S3、...)を有するサブミクロンの穴または伸びた溝のアレイを含む。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ナノ粒子の物理的特性の決定を可能にするナノ粒子スクリーニングチップであって、複数の領域に分割された作用面を有する基板を備え、
(1)各領域は表面エネルギー成分(d、b、a)で規定される異なる表面特性を示し、各領域の表面の全自由エネルギーγTOTは
γTOT=γLW+2(γ+γ-)0.5で定義され、
各成分は、
γLW=分散成分=d
γ+=電子受容体成分=b、
γ-=電子供与体成分=aであり、
(2)各領域は複数の副領域を含み、各副領域は、異なる開口サイズ(S1、S2、S3、...)を有するサブミクロンの穴または伸びた溝のアレイを含む、ナノ粒子スクリーニングチップ。
IPC (3件)：
G01N 15/00
, G01N 21/27
, B82Y 35/00
G01N15/00 C
, G01N21/27 B
, G01N21/27 E
, B82Y35/00
, G01N15/00 A
2G059AA03
, 2G059AA05
, 2G059BB09
, 2G059DD13
, 2G059EE02
, 2G059EE13
, 2G059FF01
, 2G059FF03
, 2G059HH02
, 2G059JJ05
, 2G059KK04
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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