特許

J-GLOBAL ID：201803014510376338

質量分析装置

発明者： 平松 良朗
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-127459
公開番号（公開出願番号）：特開2018-004298
出願日： 2016年06月28日
公開日（公表日）： 2018年01月11日
要約：

【課題】EI法によるイオン源のみを利用して得られるマススペクトルにおいて試料分子イオンを容易に特定する。【解決手段】EI法によるイオン源2のイオン化電圧を標準値(70eV)とそれより低い値とで切り替えて同じ試料に対するマススペクトルを取得する。強度値規格化部72は各マススペクトルでベースピークの強度値を100として各強度値を規格化し、差分マススペクトル作成部73は規格化後の低エネルギイオン化マススペクトルから標準EIマススペクトルを減算して差分マススペクトルを求める。試料分子イオン特定部74は差分マススペクトルと元の二つのマススペクトルから試料分子イオンを特定する。イオン化電圧が低いとフラグメントイオンに対し試料分子イオンの割合が増加するため、差分マススペクトルではフラグメントイオンピークは小さくなり試料分子イオンの確認が容易になる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

電子イオン化法によるイオン源を具備する質量分析装置において、 a)前記イオン源におけるイオン化電圧を複数段階に切り替えつつ同一試料に対する質量分析を実施する分析制御部と、 b)前記分析制御部の制御の下で異なるイオン化電圧に対して得られた複数のマススペクトルについて、それぞれのマススペクトルにおけるベースピークの強度値が互いに同じになるように強度値を規格化したうえで強度値の差を示す差分マススペクトルを求める差分マススペクトル作成部と、 を備え、前記差分マススペクトルと規格化前又は規格化後の前記複数のマススペクトルとを利用して試料中の化合物分子イオンを特定可能としたことを特徴する質量分析装置。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  H01J 49/26

FI (3件)：

G01N27/62 D ,  H01J49/26 ,  G01N27/62 G

Fターム (7件)：

2G041DA13 ,  2G041LA00 ,  2G041LA09 ,  2G041LA20 ,  2G041MA02 ,  5C038GG01 ,  5C038GH15