特許
J-GLOBAL ID:201803015186295733

試料分析用基板、試料分析装置、試料分析システムおよび試料分析システム用プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (6件): 奥田 誠司 ,  喜多 修市 ,  梶谷 美道 ,  岡部 英隆 ,  三宅 章子 ,  田中 悠
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2016088568
公開番号(公開出願番号):WO2017-111128
出願日: 2016年12月22日
公開日(公表日): 2017年06月29日
要約:
回転運動によって、液体の移送を行う試料分析用基板であって、回転軸を有する基板と、基板内にそれぞれ位置する、第1保持チャンバー、第1保持チャンバーから排出される第1液体を保持するための第2保持チャンバー、第2保持チャンバーから排出される第1液体を保持するためのメインチャンバー、第1開口および第2開口を有する第1流路であって、第1開口および第2開口がそれぞれ第1保持チャンバーおよび第2保持チャンバーに接続された第1流路、および、第3開口および第4開口を有する第2流路であって、第3開口および第4開口がそれぞれ第2保持チャンバーおよびメインチャンバーに接続された第2流路を備え、第1保持チャンバーは第1開口が接続している位置よりも前記回転軸から離れた部分を有し、第2保持チャンバーは第2開口が接続している位置よりも回転軸から離れた部分を有し、第2流路において、第3開口は、第4開口よりも回転軸に近接している。
請求項(抜粋):
回転運動によって、液体の移送を行う試料分析用基板であって、 回転軸を有する基板と、 前記基板内に位置し、第1液体を保持するための第1空間を有する第1保持チャンバーと、 前記基板内に位置し、前記第1保持チャンバーから排出される前記第1液体を保持するための第2空間を有する第2保持チャンバーと、 前記基板内に位置し、前記第2保持チャンバーから排出される前記第1液体を保持するための第3空間を有するメインチャンバーと、 前記基板内に位置しており、第1開口および第2開口を有する第1流路であって、前記第1開口および前記第2開口がそれぞれ前記第1保持チャンバーおよび前記第2保持チャンバーに接続された第1流路と、 前記基板内に位置しており、第3開口および第4開口を有する第2流路であって、前記第3開口および前記第4開口がそれぞれ前記第2保持チャンバーおよび前記メインチャンバーに接続された第2流路と、 を備え、 前記第1保持チャンバーは前記第1開口が接続している位置よりも前記回転軸から離れた部分を有し、 前記第2保持チャンバーは前記第2開口が接続している位置よりも前記回転軸から離れた部分を有し、 前記第2流路において、前記第3開口は、前記第4開口よりも前記回転軸に近接している、 試料分析用基板。
IPC (3件):
G01N 35/00 ,  G01N 37/00 ,  G01N 35/08
FI (3件):
G01N35/00 D ,  G01N37/00 101 ,  G01N35/08 A
Fターム (1件):
2G058DA07

前のページに戻る