導電性ダイヤモンド粒子、導電性ダイヤモンド電極、及び検査装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：廣田浩一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-221016
公開番号（公開出願番号）：特開2018-076216
出願日： 2016年11月11日
公開日（公表日）： 2018年05月17日
要約：

【課題】高い結晶品質を有し、化学的安定性及び検出感度に優れた導電性ダイヤモンド電極及び検査装置を作製できる導電性ダイヤモンド粒子等の提供。【解決手段】粒子状基材と、前記粒子状基材表面の少なくとも一部にボロンドープダイヤモンド膜とを有する導電性ダイヤモンド粒子であって、前記導電性ダイヤモンド粒子の平均粒子径が0.5μmを超え、かつ前記導電性ダイヤモンド粒子のラマンスペクトル測定(励起波長:532μm)により求めた強度比(1,580cm-1/1,332cm-1)が0.090未満である導電性ダイヤモンド粒子である。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

粒子状基材と、前記粒子状基材表面の少なくとも一部にボロンドープダイヤモンド膜とを有する導電性ダイヤモンド粒子であって、前記導電性ダイヤモンド粒子の平均粒子径が0.5μmを超え、かつ前記導電性ダイヤモンド粒子のラマンスペクトル測定(励起波長:532μm)により求めた強度比(1,580cm-1/1,332cm-1)が0.090未満であることを特徴とする導電性ダイヤモンド粒子。

IPC (2件)：

C01B 32/25 , G01N 27/30

FI (2件)：

C01B31/06 Z , G01N27/30 B

Fターム (35件)：

4G146AA04 , 4G146AA17 , 4G146AB01 , 4G146AC01B , 4G146AC02A , 4G146AC02B , 4G146AC16A , 4G146AC16B , 4G146AC20B , 4G146AD15 , 4G146AD23 , 4G146BA11 , 4G146BA20 , 4G146BA38 , 4G146BB23 , 4G146BC09 , 4G146BC25 , 4G146BC27 , 4G146BC33B , 4G146BC37B , 4G146BC45 , 4G146CA03 , 4G146CA08 , 4G146CA17 , 4G146CB11 , 4G146CB13 , 4G146CB16 , 4G146CB19 , 4G146CB22 , 4G146CB26 , 4G146CB32 , 4G146CB35 , 4G146DA03 , 4G146DA16 , 4G146DA40

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開昭62-216906
導電性ダイヤモンド電極及びその製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2011-216671 出願人：学校法人東京理科大学, 北斗電工株式会社, 株式会社明電舎
ダイヤモンド粒子およびその製造方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-045647 出願人：三井鉱山株式会社

引用文献：

審査官引用 (2件)

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