特許

J-GLOBAL ID：201803016687458426

粒子分析装置

発明者： 河野 誠
出願人/特許権者： 株式会社カワノラボ
代理人 (1件)： 前井 宏之
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016081321
公開番号（公開出願番号）：WO2017-069260
出願日： 2016年10月21日
公開日（公表日）： 2017年04月27日
要約：

粒子分析装置(1)は、測定セル(2)と測定部(10)とを備える。粒子分析装置(1)は更に、泳動部を備える。泳動部は、磁石(3a、3b)と、電極(4a、4b、4c)と、電源(5)と、レーザー光源(6)とを含む。泳動部は、磁気泳動法、誘電泳動法、電磁泳動法、及び光泳動法のうちの少なくとも2つの手法により、測定セル(2)に注入された媒体に含まれる粒子を泳動させる。測定部(10)は、粒子の物理量の測定、及び、粒子の泳動速度の測定を行う。

請求項（抜粋）：

粒子を含む媒体が注入される測定セルと、 前記測定セルに注入された前記媒体中の前記粒子を泳動させる泳動部と、 前記測定セルに注入された前記媒体中の前記粒子の物理量の測定、及び前記泳動部によって泳動中の前記粒子の移動速度の測定を行う測定部と を備え、 前記泳動部は、磁気泳動法、誘電泳動法、電磁泳動法、光泳動法、及び重力沈降法のうちの少なくとも2つの手法により、前記粒子を泳動させる、粒子分析装置。

IPC (3件)：

G01N 15/02 ,  G01N 27/76 ,  G01N 21/41

FI (3件)：

G01N15/02 A ,  G01N27/76 ,  G01N21/41 Z

Fターム (8件)：

2G053AA16 ,  2G053AB01 ,  2G053BA04 ,  2G059AA01 ,  2G059BB06 ,  2G059BB09 ,  2G059DD12 ,  2G059EE04