特許
J-GLOBAL ID:201803017765099140
テスト支援プログラム、テスト支援装置、及びテスト支援方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
中島 淳
, 加藤 和詳
, 福田 浩志
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2016-143779
公開番号(公開出願番号):特開2018-014000
出願日: 2016年07月21日
公開日(公表日): 2018年01月25日
要約:
【課題】タイミングテストを効率化する。【解決手段】評価値付与部28が、テスト対象のプログラムの処理において発生する複数種類のイベントを検出し、検出したイベントの各々について、イベントの種類に応じて予め定められた評価値を付与する。区切り生成部30が、評価値付与部28によってイベントの各々について付与された評価値を期間毎に統合して、期間に対応する統合値を生成し、生成された統合値に基づいて、テスト対象のプログラムの処理の区切りを生成する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
テスト対象のプログラムの実行により発生する複数のイベントに関する情報を取得し、
取得した前記複数のイベントに関する情報それぞれを、前記複数のイベントそれぞれの発生時刻の類似度に応じて一又は複数のイベントグループに分類し、
前記一又は複数のイベントグループそれぞれ毎に、それぞれのイベントグループに分類されたイベントそれぞれに応じた評価値の合計値を算出し、
算出した前記合計値に基づき、前記一又は複数のイベントグループそれぞれに応じた時刻に、前記プログラムにより実行される処理の区切りが存在するか否かの判定を行い、
前記一又は複数のイベントグループそれぞれに応じた時刻のうち、前記区切りが存在すると判定された時刻が存在する場合、前記区切りが存在すると判定された時刻を示唆する情報を、前記プログラムの実行開始後の経過時間に対応付けて表示する、
処理をコンピュータに実行させるテスト支援プログラム。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (9件):
5B042HH10
, 5B042HH20
, 5B042JJ30
, 5B042LA08
, 5B042MA08
, 5B042MA14
, 5B042MC22
, 5B042MC24
, 5B042MC40
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