特許

J-GLOBAL ID：201803019151564150

光子計数

発明者： シュメイッサニ ラード,モクタール ,  コルスタイン,マチエル ,  マチアス モンテロ,ヨセ ガブリエル
出願人/特許権者： インスティテュート デ フィシカ ダルテス エネルヒエス
代理人 (1件)： 特許業務法人広江アソシエイツ特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2017-543793
公開番号（公開出願番号）：特表2018-511044
出願日： 2016年02月22日
公開日（公表日）： 2018年04月19日
要約：

各画素に対し1つ以上の隣接する画素が定められる、画素化検出器における画素の光子計数のための方法を開示する。この方法は、1つ以上の画素で電荷を受け取るステップと、各画素について電荷をトリガ閾値と比較するステップとを含む。画素の電荷がトリガ閾値より高い場合、電荷は登録遅延時間の後に画素に登録される。登録遅延時間は、電荷が増大すると登録遅延時間が減少するように、画素で受け取る電荷のレベルに依存している。電荷が登録されると、画素の計数器は増分され、隣接する画素の計数器の増分は阻止(又は禁止)される。画素化半導体検出器についても開示する。【選択図】図3e

請求項（抜粋）：

画素の各々に対し1つ以上の隣接する画素が定められる画素化検出器における画素の光子計数のための方法であって、当該方法は、 1つ以上の画素で電荷を受け取るステップと、 前記画素の各々について電荷をトリガ閾値と比較するステップと、を備え、 ある画素の電荷が前記トリガ閾値より高い場合には、当該方法は更に、 登録遅延時間の後にその画素の電荷を登録するステップであって、前記登録遅延時間は、電荷が増大すると登録遅延時間が減少するように、画素で受け取る電荷のレベルに依存している、ステップと、 前記電荷が登録されたときに、画素の計数器を増分するステップと、 隣接する画素の計数器の増分を阻止するステップと、 を備えてなる方法。

IPC (2件)：

G01T 1/17 ,  G01T 1/24

FI (3件)：

G01T1/17 F ,  G01T1/24 ,  G01T1/17 A

Fターム (8件)：

2G188AA01 ,  2G188BB02 ,  2G188CC28 ,  2G188DD05 ,  2G188EE01 ,  2G188EE07 ,  2G188EE12 ,  2G188EE17

引用特許：

審査官引用 (1件)

• X線光子を計数する装置、撮像デバイス及び方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2009-540945   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ