特許

J-GLOBAL ID：201803019238621397

距離測定装置及び距離測定方法

発明者： 田中 洋介
出願人/特許権者： 国立大学法人東京農工大学
代理人 (2件)： 大渕 美千栄 ,  布施 行夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-196922
公開番号（公開出願番号）：特開2018-059789
出願日： 2016年10月05日
公開日（公表日）： 2018年04月12日
要約：

【課題】簡素な構成で広範囲の測定を高精度に行うことが可能な距離測定装置等を提供すること。【解決手段】距離測定装置は、強度変調されたレーザー光を発生する光発生部と、測定対象で反射した戻り光を、レーザー光の変調周波数と同一の変調周波数で強度変調する強度変調器と、光発生部及び強度変調器に変調信号を出力する信号発生器と、強度変調器で強度変調された戻り光を検出する光検出器と、信号発生器を制御し、光検出器からの検出信号に基づき測定対象までの距離を算出する制御部とを含む。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

強度変調されたレーザー光を発生する光発生部と、 測定対象で反射した戻り光を、前記レーザー光の変調周波数と同一の変調周波数で強度変調する強度変調器と、 前記光発生部及び前記強度変調器に変調信号を出力する信号発生器と、 前記強度変調器で強度変調された戻り光を検出する光検出器と、 前記信号発生器を制御し、前記光検出器からの検出信号に基づき前記測定対象までの距離を算出する制御部とを含む、距離測定装置。

IPC (3件)：

G01S 17/36 ,  G01S 7/491 ,  G01C 3/06

FI (3件)：

G01S17/36 ,  G01S7/491 ,  G01C3/06 120Q

Fターム (20件)：

2F112AD01 ,  2F112BA03 ,  2F112BA06 ,  2F112CA12 ,  2F112DA40 ,  2F112EA03 ,  5J084AA05 ,  5J084AD02 ,  5J084BA03 ,  5J084BA36 ,  5J084BA43 ,  5J084BB04 ,  5J084BB24 ,  5J084CA07 ,  5J084CA08 ,  5J084CA27 ,  5J084CA33 ,  5J084CA48 ,  5J084EA04 ,  5J084EA07