画像解析装置およびその制御方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：世良和信 , 川口嘉之 , 坂井浩一郎 , 中村剛 , 丹羽武司 , 森廣亮太
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-223439
公開番号（公開出願番号）：特開2018-082316
出願日： 2016年11月16日
公開日（公表日）： 2018年05月24日
要約：

【課題】本発明は、複数の異なる方式のコンテンツの対応関係、差異を可視化できる画像解析装置、およびその制御方法を提供することを目的とする。【解決手段】本発明の画像解析装置は、第1の入力画像データに基づいて、第1の波形モニタを生成する第1の生成手段と、第2の入力画像データに基づいて、第2の波形モニタを生成する第2の生成手段と、前記第1の波形モニタと前記第2の波形モニタとを合成する合成手段と、を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1の入力画像データに基づいて、第1の波形モニタを生成する第1の生成手段と、第2の入力画像データに基づいて、第2の波形モニタを生成する第2の生成手段と、前記第1の波形モニタと前記第2の波形モニタとを合成する合成手段と、を備えることを特徴とする画像解析装置。

IPC (1件)：

H04N 17/02

FI (1件)：

H04N17/02 Z

Fターム (1件)：

5C061BB06

引用特許：

審査官引用 (4件)

試験測定機器及びその測定ビュー同期化方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2011-083315 出願人：テクトロニクス・インコーポレイテッド
画像処理装置及びその制御方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2012-084086 出願人：キヤノン株式会社
装置及び方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2015-085690 出願人：テクトロニクス・インコーポレイテッド

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