特許

J-GLOBAL ID：201803019890909688

ファイバレーザシステム、その耐反射性評価方法および耐反射性向上方法、ならびにファイバレーザ

発明者： 柏木 正浩
出願人/特許権者： 株式会社フジクラ
代理人 (1件)： 特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016081721
公開番号（公開出願番号）：WO2017-073609
出願日： 2016年10月26日
公開日（公表日）： 2017年05月04日
要約：

ファイバレーザシステム全体を動作させた状態における、各ファイバレーザの耐反射性を評価する。ファイバレーザ(2〜4)のそれぞれは、低反射FBG(26)を透過したレーザ光のパワーを測定するレーザ光測定部(28)と、高反射FBG(24)を透過したストークス光のパワーを測定するストークス光測定部(29)とを有している。

請求項（抜粋）：

複数のファイバレーザを備えており、 上記複数のファイバレーザのそれぞれは、 当該ファイバレーザの低反射ミラーを透過したレーザ光のパワーを測定するレーザ光測定部と、 当該ファイバレーザの高反射ミラーを透過したストークス光のパワーを測定するストークス光測定部と、を有していることを特徴とするファイバレーザシステム。

IPC (3件)：

H01S 3/067 ,  H01S 3/23 ,  H01S 3/00

FI (3件)：

H01S3/067 ,  H01S3/23 ,  H01S3/00 G

Fターム (12件)：

5F172AE13 ,  5F172AM04 ,  5F172AM08 ,  5F172DD06 ,  5F172EE01 ,  5F172NN05 ,  5F172NN23 ,  5F172NP01 ,  5F172NP03 ,  5F172NP16 ,  5F172NP18 ,  5F172NQ34