特許

J-GLOBAL ID：201803020528643570

投射装置、投射方法および投射プログラム

発明者： 玉井 潤一
出願人/特許権者： NECプラットフォームズ株式会社
代理人 (2件)： 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2016003980
公開番号（公開出願番号）：WO2017-038096
出願日： 2016年08月31日
公開日（公表日）： 2017年03月09日
要約：

複雑な凹凸を有する投射面であっても、平面と同様に画像を表示させるために、投射面の表面状態に応じた歪を検出するためのパターン画像と、パターン画像が平面に表示された際の表示画像に対応する期待画像と、所望の投射画像とを少なくとも記憶する記憶部と、パターン画像および所望の投射画像を含む画像を投射面に投射する投射部と、投射面に表示されたパターン画像の表示画像を取得して歪画像を抽出する画像取得部と、期待画像と歪画像とを比較することによって投射面の歪に関する歪パラメータを算出する歪量算出部と、歪パラメータを用いて投射面に投射する所望の投射画像を補正する歪補正処理部と、歪補正処理部によって補正された所望の投射画像と、パターン画像とを含む画像データを投射部に出力する画像出力部とを備える投射装置とする。

請求項（抜粋）：

投射面の表面状態に応じた歪を検出するためのパターン画像と、前記パターン画像が平面に表示された際の表示画像に対応する期待画像と、所望の投射画像とを少なくとも記憶する記憶手段と、 前記パターン画像および前記所望の投射画像を含む画像を前記投射面に投射する投射手段と、 前記投射面に表示された前記パターン画像の表示画像を取得して歪画像を抽出する画像取得手段と、 前記期待画像と前記歪画像とを比較することによって前記投射面の歪に関する歪パラメータを算出する歪量算出手段と、 前記歪パラメータを用いて前記投射面に投射する前記所望の投射画像を補正する歪補正処理手段と、 前記歪補正処理手段によって補正された前記所望の投射画像と、前記パターン画像とを含む画像データを前記投射手段に出力する画像出力手段とを備える投射装置。

IPC (4件)：

H04N 5/74 ,  G03B 21/00 ,  G09G 5/00 ,  G09G 5/36

FI (7件)：

H04N5/74 D ,  G03B21/00 D ,  G09G5/00 510B ,  G09G5/36 520P ,  G09G5/36 520D ,  G09G5/00 530H ,  G09G5/00 550C

Fターム (25件)：

2K203FA63 ,  2K203GB35 ,  2K203GB46 ,  2K203GB47 ,  2K203GB62 ,  2K203GB69 ,  2K203KA29 ,  2K203KA56 ,  2K203MA23 ,  5C058BA27 ,  5C058BB25 ,  5C058EA02 ,  5C182AA03 ,  5C182AA04 ,  5C182AA14 ,  5C182BA14 ,  5C182CA12 ,  5C182CA37 ,  5C182CB11 ,  5C182CB13 ,  5C182CB14 ,  5C182CB44 ,  5C182CC24 ,  5C182CC26 ,  5C182DA70