特許

J-GLOBAL ID：201803020802951082

アレイ基板、表示装置及びセンサ電極の検査方法

発明者： 福島 俊明
出願人/特許権者： 株式会社ジャパンディスプレイ
代理人 (1件)： 特許業務法人酒井国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-124947
公開番号（公開出願番号）：特開2017-228162
出願日： 2016年06月23日
公開日（公表日）： 2017年12月28日
要約：

【課題】小型なアレイ基板、表示装置及びセンサ電極の検査方法を提供する。【解決手段】静電容量の変化を検出するためのセンサ電極COMLと、センサ電極と電気的に接続可能であって、基板の端部まで引き出されている引出配線50とを備える第1基板21を複数切り出すためのマザー基板であって、第1基板となる複数の第1基板領域IBと、第1基板領域間にあって第1基板領域に隣接する端材領域IAとを有する。端材領域には、センサ電極を検査するためのセンサ電極検査用パッド51が配置される。引出配線がセンサ電極検査用パッドに接続され、かつ、引出配線が第1基板領域と端材領域とに跨がって配置されている。第1基板領域と端材領域とが切断分離される前に、センサ電極検査用パッドからセンサ電極の導通確認を行う。【選択図】図30

請求項（抜粋）：

基板と、 前記基板に配置され、静電容量の変化を検出するためのセンサ電極と、 前記センサ電極と電気的に接続可能であって、前記基板の端部まで引き出されている引出配線とを備える、アレイ基板。

IPC (6件)：

G06F 3/041 ,  G02F 1/133 ,  G02F 1/136 ,  G06F 3/044 ,  G09F 9/00 ,  G09F 9/30

FI (10件)：

G06F3/041 430 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1368 ,  G02F1/133 530 ,  G06F3/041 412 ,  G06F3/044 128 ,  G09F9/00 352 ,  G09F9/30 349Z ,  G09F9/00 366A ,  G09F9/30 330

Fターム (41件)：

2H189HA11 ,  2H189JA11 ,  2H189LA03 ,  2H189LA10 ,  2H189LA28 ,  2H189LA31 ,  2H192AA24 ,  2H192BB41 ,  2H192GB32 ,  2H192GB36 ,  2H192GB43 ,  2H192GD61 ,  2H192JA32 ,  2H193ZA04 ,  2H193ZA09 ,  2H193ZC24 ,  2H193ZC36 ,  2H193ZF43 ,  2H193ZJ02 ,  2H193ZP03 ,  2H193ZQ16 ,  5C094AA41 ,  5C094BA27 ,  5C094BA43 ,  5C094DB02 ,  5C094DB03 ,  5C094DB04 ,  5C094EA03 ,  5C094EA04 ,  5C094EA05 ,  5C094EA10 ,  5C094FB12 ,  5C094FB19 ,  5C094GB10 ,  5C094JA08 ,  5G435AA19 ,  5G435BB05 ,  5G435BB12 ,  5G435EE49 ,  5G435HH12 ,  5G435KK05