研究者
J-GLOBAL ID:201901001760965032   更新日: 2021年04月09日

関 岳人

セキ タケヒト | Seki Takehito
所属機関・部署:
職名: 助教
研究分野 (1件): ナノ材料科学
研究キーワード (8件): 走査透過型電子顕微鏡法 ,  微分位相コントラスト法 ,  半導体 ,  磁性材料 ,  準結晶 ,  金属間化合物 ,  界面 ,  粒界
競争的資金等の研究課題 (8件):
  • 2020 - 2025 20H05659原子スケール局所磁場直接観察手法の開発と磁性材料界面研究への応用
  • 2019 - 2024 19H05788界面機能コア解析
  • 2020 - 2023 20H00301超低ドーズ原子直視型STEM法の開発と無機・有機材料原子構造解析
  • 2020 - 2023 20K15014走査透過型電子顕微鏡による局所領域における化学結合電子の可視化手法の開発
  • 2017 - 2022 17H06094原子・イオンダイナミクスの超高分解能直接観察に基づく新材料創成
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論文 (21件):
  • David G Hopkinson, Takehito Seki, Nicholas Clark, Runze Chen, Yichao Zou, Ayumi Kimura, Roman V Gorbachev, Thomas Thomson, Naoya Shibata, Sarah J Haigh. Nanometre imaging of Fe3GeTe2 ferromagnetic domain walls. Nanotechnology. 2021. 32. 20. 205703-205703
  • Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Toward quantitative electromagnetic field imaging by differential-phase-contrast scanning transmission electron microscopy. Microscopy. 2021. 70. 148-160
  • Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Ultra-high contrast STEM imaging for segmented/pixelated detectors by maximizing the signal-to-noise ratio. Ultramicroscopy. 2021. 220. 113133
  • Hao Zeng, Tsunaki Takahashi, Takehito Seki, Masaki Kanai, Guozhu Zhang, Takuro Hosomi, Kazuki Nagashima, Naoya Shibata, Takeshi Yanagida. Oxygen-Induced Reversible Sn-Dopant Deactivation between Indium Tin Oxide and Single-Crystalline Oxide Nanowire Leading to Interfacial Switching. ACS Applied Materials & Interfaces. 2020. 12. 47. 52929
  • Yoshiki O Murakami, Takehito Seki, Akihito Kinoshita, Tetsuya Shoji, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Magnetic-structure imaging in polycrystalline materials by specimen-tilt series averaged DPC STEM. Microscopy. 2020. 69. 5. 312-320
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MISC (19件):
  • Scott Findlay, Leslie Allen, Hamish Brown, Zhen Chen, Jim Ciston, Yuichi Ikuhara, Ryo Ishikawa, Colin Ophus, Gabriel Sánchez-Santolino, Takehito Seki, et al. Phase-Contrast-Based Structure Retrieval Methods in Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy - When They Hold and When They Don't. Microscopy and Microanalysis. 2020. 26. S2. 442-443
  • Kousuke Ooe, Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Light Element Imaging Technique at Low Dose Condition by Processing Simultaneously Obtained STEM Images Using a Segmented Detector. Microscopy and Microanalysis. 2019. 25. S2. 484-485
  • Takehito Seki, Yuichi Ikuhara, Naoya Shibata. Iterative Algorithm of Atomic Potential Reconstruction Based on DPC Signal from Thick Specimens. Microscopy and Microanalysis. 2019. 25. S2. 60-61
  • Y. Murakami, T. Seki, A. Kinoshita, T. Shoji, Y. Ikuhara, N. Shibata. Development of Magnetic Structure Imaging Techniques in Polycrystalline Materials by DPC STEM. AMTC Letters. 2019. 6. 48-49
  • S. Toyama, T. Seki, H. Sasaki, Y. Ikuhara, N. Shibata. Electric field quantification method for a p-n junctionElectric field quantification method for a p-n junction by DPC STEM by DPC STEM. AMTC Letters. 2019. 6. 20-21
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講演・口頭発表等 (5件):
  • STEM 位相イメージングの理論と応用
    (日本顕微鏡学会第63回シンポジウム 2020)
  • DPCによる電磁場観察法
    (DPC技術講演会 2020)
  • DPCによる電磁場定量法の基礎
    (日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡討論会 2019)
  • DPC STEMによる原子ポテンシャル再生法
    (日本顕微鏡学会学術講演会 2018)
  • 微分位相コントラスト法による電磁場定量の現状と展望
    (日本顕微鏡学会超高分解能顕微鏡法分科会研究会 2018)
学位 (1件):
  • 博士(工学) (東京大学)
経歴 (4件):
  • 2019/04 - 現在 東京大学 工学系研究科総合研究機構 助教
  • 2015/04 - 2019/03 東京大学 工学系研究科総合研究機構 特任研究員
  • 2014/04 - 2015/03 東京大学 工学系研究科マテリアル工学専攻 日本学術振興会特別研究員(PD)
  • 2013/04 - 2014/03 東京大学 工学系研究科マテリアル工学専攻 日本学術振興会特別研究員(DC2)
受賞 (5件):
  • 2021/03 - 風戸研究奨励会 風戸研究奨励賞 高速分割型 STEM 検出器による超高感度原子結像法の開発と応用
  • 2019/05 - 日本顕微鏡学会 論文賞(顕微鏡法基礎部門) Boundary-artifact-free determination of potential distribution from differential phase contrast signals
  • 2017/05 - 日本顕微鏡学会 論文賞(応用研究 非生物部門) Local cluster symmetry of a highly ordered quasicrystalline Al58Cu26Ir16 extracted through multivariate analysis of STEM images
  • 2013/09 - 12th International Conference on Quasicrystals Best Poster Prize
  • 2011/05 - The 6th Asian International Workshop on Quasicrystals Young Scientist Award
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