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J-GLOBAL ID：201902002572213066   整理番号：19S2487698

Reduction of surface leakage current in cd0.2hg0.8te photodiode

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著者 (6件)：
Yoshida, Y.

Yoshida, Y. について

(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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Hisa, Y.

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(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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Takiguchi, T.

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(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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Komine, Y.

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(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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Yasumura, K.

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(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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Sato, K.

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(LSI R and D laboratory, Mitsubishi Electric Corporation)

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資料名：
Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering

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巻： 972  ページ： 39-43  発行年： 1988年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0277-786X 
言語： 英語 (EN)

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