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J-GLOBAL ID：201902005174953377   整理番号：19S2655918

Short-Channel Effects in Subquarter-Micrometer-Gate HEMT’s: Simulation and Experiment

著者 (5件)： Awano, Yuji (Fujitsu Laboratories, Ltd.) ,  Kosugi, Makoto (Fujitsu Laboratories, Ltd.) ,  Kosemura, Kinjiro (Fujitsu Laboratories, Ltd.) ,  Mimura, Takashi (Fujitsu Laboratories, Ltd.) ,  Abe, Masayuki (Fujitsu Laboratories, Ltd.)
資料名： IEEE Transactions on Electron Devices
巻： 36  号： 10  ページ： 2260-2266  発行年： 1989年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0018-9383 
言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： HEMT