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J-GLOBAL ID：201902010264239189   整理番号：19S2713740

Scanning tunneling microscopy of silicon surfaces in air: Observation of atomic images

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著者 (7件)：
Nakagawa, Y.

Nakagawa, Y. について

(Toray Research Center, Inc.)

Toray Research Center, Inc. について

, 
Ishitani, A.

Ishitani, A. について

(Toray Research Center, Inc.)

Toray Research Center, Inc. について

, 
Takahaqi, T.

Takahaqi, T. について

(Kuroda Solid Surface Project, Research Development Corporation of Japan)

Kuroda Solid Surface Project, Research Development Corporation of Japan について

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Kuroda, H.

Kuroda, H. について

(Kuroda Solid Surface Project, Research Development Corporation of Japan)

Kuroda Solid Surface Project, Research Development Corporation of Japan について

, 
Tokumoto, H.

Tokumoto, H. について

(Electrotechnical Laboratory)

Electrotechnical Laboratory について

, 
Ono, M.

Ono, M. について

(Electrotechnical Laboratory)

Electrotechnical Laboratory について

, 
Kajimura, K.

Kajimura, K. について

(Electrotechnical Laboratory)

Electrotechnical Laboratory について


資料名：
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films

Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films について


巻： 8  号： 1  ページ： 262-265  発行年： 1990年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0734-2101 
言語： 英語 (EN)

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