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J-GLOBAL ID：201902013163732355   整理番号：19S2845760

Three-dimensional analysis of high voltage electron microscope tilt images: Methods and problems

著者 (2件)： Hama, Kiyoshi (National Institute for Physiological Sciences) ,  Arii, Tatsuo (National Institute for Physiological Sciences)
資料名： Journal of Electron Microscopy Technique
巻： 6  号： 2  ページ： 185-192  発行年： 1987年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0741-0581 
言語： 英語 (EN)