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J-GLOBAL ID：201902016262762974   整理番号：19S3067137

Structure analysis of Si(111)-7 × 7 reconstructed surface by transmission electron diffraction

著者 (4件)： Takayanagi, Kunio (Physics Department, Tokyo Institute of Technology) ,  Tanishiro, Yasumasa (Physics Department, Tokyo Institute of Technology) ,  Takahashi, Shigeki (Physics Department, Tokyo Institute of Technology) ,  Takahashi, Masaetsu (Physics Department, Tokyo Institute of Technology)
資料名： Surface Science
巻： 164  号： 2-3  ページ： 367-392  発行年： 1985年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0039-6028  CODEN： SUSCA 
言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (1件)： Si