文献
J-GLOBAL ID：201902018338958108   整理番号：19S2829388

Labeled point pattern matching by Delaunay triangulation and maximal cliques

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著者 (1件)：
Ogawa, Hideo

Ogawa, Hideo について

(Department of Electronics Engineering, Fukui University)

Department of Electronics Engineering, Fukui University について


資料名：
Pattern Recognition

Pattern Recognition について


巻： 19  号： 1  ページ： 35-40  発行年： 1986年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0031-3203  CODEN： PTNRA 
言語： 英語 (EN)

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