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J-GLOBAL ID：201902109514264156   整理番号：19S1404712

A non-scan DFT method at register-transfer level to achieve complete fault efficiency

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著者 (4件)：
Ohtake, Satoshi

Ohtake, Satoshi について

(Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology)

Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology について

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Wada, Hiroki

Wada, Hiroki について

(Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology)

Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology について

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Masuzawa, Toshimitsu

Masuzawa, Toshimitsu について

(Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology)

Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology について

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Fujiwara, Hideo

Fujiwara, Hideo について

(Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology)

Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology について


資料名：
Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC

Proceedings of the Asia and South Pacific Design Automation Conference, ASP-DAC について


ページ： 599-604  発行年： 2000年 
JST資料番号： SCOPUS  ISBN： 9780780359741 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)
タイトルに関連する用語 (1件)：
タイトルに関連する用語
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DFT

DFT について


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