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J-GLOBAL ID：201902111338998754   整理番号：19S2352430

Analysis of diode recovery phenomena using transient analysis method for semiconductor devices coupled with external circuit

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著者 (4件)：
Mishima, A.

Mishima, A. について

(Hitachi, Ltd)

Hitachi, Ltd について

, 
Kimura, S.

Kimura, S. について

(Hitachi, Ltd)

Hitachi, Ltd について

, 
Mori, M.

Mori, M. について

(Hitachi, Ltd)

Hitachi, Ltd について

, 
Kozaka, H.

Kozaka, H. について

(Hitachi, Ltd)

Hitachi, Ltd について


資料名：
IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs (ISPSD)

IEEE International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs (ISPSD) について


ページ： 396-399  発行年： 1995年 
JST資料番号： SCOPUS  ISBN： 0780326199  CODEN： PISDE 

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