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J-GLOBAL ID：201902200161232767   整理番号：19S1069157

Fault diagnosis for physical defects of unknown behaviors

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著者 (4件)：
Wen, X.

Wen, X. について

(SynTest Technologies, Inc.)

SynTest Technologies, Inc. について

, 
Tamamoto, H.

Tamamoto, H. について

(Dept. of Information Engr., Akita University)

Dept. of Information Engr., Akita University について

, 
Saluja, K. K.

Saluja, K. K. について

(Dept. of ECE, University of Wisconsin)

Dept. of ECE, University of Wisconsin について

, 
Kinoshita, K.

Kinoshita, K. について

(Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University)

Faculty of Informatics, Osaka Gakuin University について


資料名：
Proceedings of the Asian Test Symposium

Proceedings of the Asian Test Symposium について


巻： 2003-January  ページ： 236-241  発行年： 2003年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 1081-7735  ISBN： 0769519512 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)

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