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J-GLOBAL ID：201902201369486335   整理番号：19S0585030

Polarized XAFS study of Al K-edge for m-plane AlGaN films

著者 (6件)： Miyanaga, T. (Department of Advanced Physics, Hirosaki University) ,  Azuhata, T. (Department of Advanced Physics, Hirosaki University) ,  Nakajima, K. (Department of Advanced Physics, Hirosaki University) ,  Nagoya, H. (Department of Advanced Physics, Hirosaki University) ,  Hazu, K. (Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Department of Applied Physics, Tohoku University) ,  Chichibu, S. F. (Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Department of Applied Physics, Tohoku University)
資料名： Journal of Physics: Conference Series
巻： 502  号： 1  発行年： 2014年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 1742-6588 
発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (3件)： XAFS ,  Al ,  AlGaN