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J-GLOBAL ID：201902204242047803   整理番号：19S1234141

Twin-Probe Atomic Force Microscopy with Optical Beam Deflection Using Vertically Incident Lasers by Two Beam Splitter

著者 (8件)： Satoh, Nobuo (Kyoto University) ,  Satoh, Nobuo (Chiba Institute of Technology) ,  Tsunemi, Eika (Kyoto University) ,  Kobayashi, Kei (Kyoto University) ,  Matsushige, Kazumi (Kyoto University) ,  Yamada, Hirofumi (Kyoto University) ,  Komatsubara, Takashi (Horiba, Ltd) ,  Higuchi, Seiji (Horiba, Ltd)
資料名： Electronics and Communications in Japan
巻： 99  号： 9  ページ： 92-100  発行年： 2016年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 1942-9533 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)