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J-GLOBAL ID：201902211349369946   整理番号：19A2012226

光電子デバイスの熱加工モードを提供する方法【JST・京大機械翻訳】

Optoelectronic Devices’ Thermal Working Modes Providing Method

著者 (3件)： Kofanov Yury N. (Department of Electronic Engineering, National Research University Higher School of Economics, Moscow, Russia) ,  Vinokurov Yury A. (Laser gyroscope development department, Stelmakh Research Institute “Polus”, Moscow, Russia) ,  Sotnikova Svetlana Y. (Department of Electronic Engineering, National Research University Higher School of Economics, Moscow, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： SED  ページ： 1-4  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,光電子デバイスの熱動作モードのアルゴリズムを提案した。プリント回路アセンブリの電子部品における内部放熱を含む高い熱負荷における投影作業精度を得る問題と光電子デバイスの光学部品,オプトエレクトロニクスデバイスの設計者によってしばしば直面する問題を解決した。Zeemanレーザジャイロスコープとして知られているZeemanベース周波数バイアスレーザジャイロスコープにおけるこの方法の実装に焦点を合わせた。電子組立/部品熱モデル試験の例を示し,Zeemanレーザジャイロ熱モデルを構築した。使用方法はZeemanレーザジャイロスコープだけでなく,広範囲のオプトエレクトロニクスデバイスにも適用できることを示した。光電子デバイスの設計におけるこの方法の実装は,システムアプローチを得ることを可能にし,必要なレベルに対する信頼性と作業精度を改善することを可能にする。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： アルゴリズム ,  システムアプローチ ,  基本振動数 ,  熱負荷 ,  模型試験 ,  電子部品 ,  信頼性 ,  熱放射 ,  *レーザジャイロ ,  運転モード
準シソーラス用語： 熱モデル ,  光学部品 ,  プリント回路 ,  *光電子デバイス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： パターン認識  (JE07000S) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (2件)： 光電子デバイス ,  熱加工