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J-GLOBAL ID：201902211750838073   整理番号：19S0015603

Power and noise aware test using preliminary estimation

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著者 (4件)：
Noda, Kenji

Noda, Kenji について

(Semiconductor Technology Academic Research Center)

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Ito, Hideaki

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(Semiconductor Technology Academic Research Center)

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Hatayama, Kazumi

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(Semiconductor Technology Academic Research Center)

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Aikyo, Takashi

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(Semiconductor Technology Academic Research Center)

Semiconductor Technology Academic Research Center について


資料名：
2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT '09

2009 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT '09 について


ページ： 323-326  発行年： 2009年 
JST資料番号： SCOPUS  ISBN： 9781424427826 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)

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