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J-GLOBAL ID：201902211920048246   整理番号：19A1490000

配置を考慮した組合せ論理における多重過渡故障【JST・京大機械翻訳】

Multiple Transient Faults in Combinational Logic with Placement Considerations

著者 (5件)： Paliaroutis Georgios Ioannis (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Thessaly, Volos, 38221, Greece) ,  Tsoumanis Pelopidas (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Thessaly, Volos, 38221, Greece) ,  Evmorfopoulos Nestor (Department of Electrical and Computer Engineering, University of Thessaly, Volos, 38221, Greece) ,  Dimitriou George (Department of Computer Science, University of Thessaly, Department of Electrical and Computer Engineering, Volos, 38221, Greece) ,  Stamoulis Georgios I. (Department of Computer Science, University of Thessaly, Department of Electrical and Computer Engineering, Volos, 38221, Greece)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2019  号： MOCAST  ページ： 1-4  発行年： 2019年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 放射線誘起故障に対する集積回路の感受性は,主要な信頼性の懸念のままである。CMOS技術におけるデバイス特性サイズの連続ダウンスケーリングと供給電圧の低減は問題を悪化させる傾向がある。したがって,複数の過渡故障の存在下でのソフトエラー率(SER)の評価は,オープンな研究分野のままであるので,必要である。このツールは,モンテカルロシミュレーションに基づいており,マスキング機構の実装と配置情報の考慮により,正確なSER推定を提供する。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *故障 ,  集積回路 ,  信頼性 ,  *組合せ論 ,  *多重化 ,  マスキング ,  放射線 ,  感受性
準シソーラス用語： モンテカルロシミュレーション ,  ソフトエラー率 ,  供給電圧 ,  ダウンスケーリング ,  デバイス特性 ,  CMOS技術 ,  *過渡故障 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (4件)： 組合せ ,  論理 ,  多重 ,  過渡故障