分子二次イオン質量分析におけるイオン化確率  レーザ位置決めにより研究したスパッタされたグアニン分子のプロトン化効率【JST・京大機械翻訳】

Popczun Nicholas J.; Breuer Lars; Wucher Andreas; Winograd Nicholas

文献

J-GLOBAL ID：201902212356980547 整理番号：19A1887157

分子二次イオン質量分析におけるイオン化確率レーザ位置決めにより研究したスパッタされたグアニン分子のプロトン化効率【JST・京大機械翻訳】

Ionization Probability in Molecular Secondary Ion Mass Spectrometry: Protonation Efficiency of Sputtered Guanine Molecules Studied by Laser Postionization

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資料名：
巻： 121 号： 16 ページ： 8931-8937 発行年： 2017年
JST資料番号： W1877A ISSN： 1932-7447 CODEN： JPCCCK 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

二次イオン質量分析(SIMS)実験のための改良された二次イオン収率の展望は,新しい一次イオン源,計装,およびポジショニング技術の革新を駆動する。分子SIMS及び他の脱着法における検出感度に影響を及ぼす重要な因子はスパッタ分子のイオン化確率が低いと信じられているが,これはしばしば10~5と低いと仮定されているが,現在は基本的には未知である。イオン化確率の増強を目的とした戦略に対する将来の開発のための将来の開発のために,対応する中性分子を検出するための強場レーザ位置決め(LPI)を用いた[M+H]+二次イオンの形成のためのスパッタグアニン分子のプロトン化効率を調べた。二次イオンと中性収率の定量的な比較を可能にするために,集束レーザビームによるスパッタされた中性粒子の主に検出可能なプルームのアンダーサンプリングのためにポジショニング信号を補正した。20keV C_60クラスタ発射体による衝撃下での清浄膜から脱着した分子グアニンのプロトン化確率は1~2×10-3のオーダーであり,レーザ誘起フラグメンテーションから生じるいくつかの残留不確実性と中性及びイオン化分子の放出速度分布における可能な差があることを示した。さらに,より強力なイオン化レーザを用いると,ポジショニング信号は原理的に2桁増強されることが分かった。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

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質量分析 , 質量分析計

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分子二次イオン質量分析におけるイオン化確率 レーザ位置決めにより研究したスパッタされたグアニン分子のプロトン化効率【JST・京大機械翻訳】

分子二次イオン質量分析におけるイオン化確率レーザ位置決めにより研究したスパッタされたグアニン分子のプロトン化効率【JST・京大機械翻訳】