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J-GLOBAL ID:201902212937240442   整理番号:19A0464552

Algangan金属-絶縁体-半導体紫外光検出器のための超音波支援ミスト化学蒸着堆積MgO【JST・京大機械翻訳】

Ultrasonic Assisted Mist Chemical Vapor Deposition Deposited MgO for AlGaNGaN Metal-Insulator-Semiconductor Ultraviolet Photodetector
著者 (4件):
資料名:
巻:号:ページ: ROMBUNNO.3500404.1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2476A  ISSN: 2475-1472  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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本研究では,AlGaNGaN金属-絶縁体-半導体(MIS)紫外線検出器の絶縁層として10nmのMgO膜を堆積するために,超音波支援ミスト化学蒸着(UAM-CVD)技術を用いた。照明面積は0.47mm2と設計した。MgO膜の厚さを透過型電子顕微鏡(TEM)により確認した。屈折率,消光係数,光透過率のようなMgO膜の光学特性をエリプソメータとUVVISIR分光計により特性化した。MIS光検出器の暗電流は5.03pAであり,4.23nAのSchottky障壁光検出器よりはるかに低い。MIS光検出器はSchottky障壁光検出器に比べて高い内部光伝導利得を示した。したがって,MIS光検出器は0.44AW(360nm)の高い光応答性を有する。このような高い応答性はMIS光検出器を3.8310~12W(360nm)の低雑音等価パワーと1.79×10~10Jones(360nm)の高検出能を与える。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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測光と光検出器一般 

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