Pu Youlei について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Liu Guo について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Lin Aimeng について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Wang Zhaodong について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Wang Jianxun について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Wu Zewei について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Jiang Wei について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Zhang Shengyuan について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
Luo Yong について
School of Electronic Science and Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China について
IEEE Transactions on Plasma Science について
安全性 について
積分 について
進行波管 について
数学モデル について
制御装置 について
ジャイロスコープ について
フィラメント について
ジャイロトロン について
モデリング について
電圧 について
電流 について
微分 について
高温試験 について
カソード について
ホット試験 について
電子管,放電管 について
ジャイロトロン について
進行波管 について
高温試験 について
PID について
モデリング について
実験 について