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J-GLOBAL ID:201902214103466267   整理番号:19A1647652

n型PbTe系化合物における荷電不純物欠陥クラスタ形成と熱電特性によるFermi準位の微調整【JST・京大機械翻訳】

Fine tuning of Fermi level by charged impurity-defect cluster formation and thermoelectric properties in n-type PbTe-based compounds
著者 (7件):
資料名:
巻:号: 27  ページ: 16488-16500  発行年: 2019年 
JST資料番号: W0204B  ISSN: 2050-7488  CODEN: JMCAET  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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p型PbTe化合物の熱電(TE)性能の増強には著しい発展があった。しかし,n型化合物のTE性能はp型化合物のそれと同等ではなかった。高性能を最適化するためには,有効Fermi準位同調が重要である。ここでは,外因性ドーピングが複雑な欠陥配置を引き起こし,従来の格子動力学と異常な電子/熱輸送特性をもたらすことを見出した。生成エネルギー計算から,過剰Pbを有するPbTe化合物の格子定数の増加は,格子間化合物(Pb_intとTe_int),Pb-Teアンチサイト欠陥,およびクラスタ型欠陥[(Pb_Te-Te_Pb),(Pb-Pb)_Te,(Te-Te)_Pb,および(Pb_int-2Pb_Te)]の形成と相関した。過剰PbとBiドーピングのような外因性n型ドーピングを適用したとき,対応する正孔ドーピング型複合欠陥が容易に発生した。V_Te2+およびPb_int2+点欠陥のような固有欠陥およびPb_int-2(Pb_Te)のようなクラスタ型アニオン欠陥による電荷補償効果は,Pb_1+xTe中の過剰Pb濃度に関して,従来の電気輸送挙動をもたらした。Pb_1-xBi_xTeにおけるBiドーピングは,同時に,NBI_Pb-V_Pb(n=2および3)のような複雑なクラスタ型欠陥を引き起こした。複雑なクラスタ型欠陥はドーピング効率を抑制するだけでなく,Seebeck係数の散乱指数を増加させ,Seebeck係数の増強をもたらした。荷電不純物と欠陥クラスタドーピングの間の電荷補償は,最適キャリア濃度に対するFermi準位の微調整に有益であった。Copyright 2019 Royal Society of Chemistry All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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半導体結晶の電気伝導 

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