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J-GLOBAL ID：201902214104081915   整理番号：19S0395268

Trace signal selection methods for post silicon debugging

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著者 (4件)：
Choudhary, Shridhar

Choudhary, Shridhar について

(Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo)

Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo について

, 
Gharehbaghi, Amir Masoud

Gharehbaghi, Amir Masoud について

(Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo)

Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo について

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Matsumoto, Takeshi

Matsumoto, Takeshi について

(Ishikawa National College of Technology)

Ishikawa National College of Technology について

, 
Fujita, Masahiro

Fujita, Masahiro について

(VLSI Design and Education Center, University of Tokyo)

VLSI Design and Education Center, University of Tokyo について


資料名：
IEEE/IFIP International Conference on VLSI and System-on-Chip, VLSI-SoC

IEEE/IFIP International Conference on VLSI and System-on-Chip, VLSI-SoC について


巻： 2015-October  ページ： 258-263  発行年： 2015年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 2324-8432  ISBN： 9781467391405 
発行国： アメリカ (USA)  言語： 英語 (EN)

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