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J-GLOBAL ID：201902214500808592   整理番号：19A1555194

40nm CMOS技術における192×128時間相関SPADイメージセンサ【JST・京大機械翻訳】

A $192¥times128$ Time Correlated SPAD Image Sensor in 40-nm CMOS Technology

著者 (10件)： Henderson Robert K. (School of Engineering, The University of Edinburgh, Edinburgh, U.K.) ,  Johnston Nick (School of Engineering, The University of Edinburgh, Edinburgh, U.K.) ,  Mattioli Della Rocca Francescopaolo (School of Engineering, The University of Edinburgh, Edinburgh, U.K.) ,  Chen Haochang (Centre for Biophotonics, Strathclyde Institute of Pharmacy and Biomedical Sciences, University of Strathclyde, Glasgow, U.K.) ,  Day-Uei Li David (Centre for Biophotonics, Strathclyde Institute of Pharmacy and Biomedical Sciences, University of Strathclyde, Glasgow, U.K.) ,  Hungerford Graham (HORIBA Jobin Yvon IBH Ltd., Glasgow, U.K.) ,  Hirsch Richard (HORIBA Jobin Yvon IBH Ltd., Glasgow, U.K.) ,  Mcloskey David (HORIBA Jobin Yvon IBH Ltd., Glasgow, U.K.) ,  Yip Philip (Department of Physics, Photophysics Group, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow, U.K.) ,  Birch David J. S. (Department of Physics, Photophysics Group, SUPA, University of Strathclyde, Glasgow, U.K.)
資料名： IEEE Journal of Solid-State Circuits  (IEEE Journal of Solid-State Circuits)
巻： 54  号： 7  ページ： 1907-1916  発行年： 2019年 
JST資料番号： B0761A  ISSN： 0018-9200  CODEN： IJSCBC  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 192×128画素単一光子アバランシェダイオード(SPAD)時間分解単一光子計数(TCSPC)画像センサを,STMicroエレクトロニクス 40nm CMOS技術に実装した。13%充填因子,18.4μm×9.2μm画素は,0.9-LSB微分と5.64-LSB積分非線形性(DNL/INL)を有する33ps分解能,135ns全スケール,12ビット時間-ディジタル変換器(TDC)を含んだ。このセンサは,平均219psの全幅半最大(FWHM)インパルス応答関数(IRF)を達成し,64並列化直列出力を通して18.6kフレーム/sまで動作可能である。濃度因子3.25を有する円筒マイクロレンズは,充填因子を42%に増加させた。中間暗計数率(DCR)は1.5V過剰バイアスで25Hzである。撮像装置の柱に統合されたディジタル較正方式により,オフチップのディジタルプロセス,電圧,および温度(PVT)の各フレームの補償が可能になる。蛍光寿命イメージング顕微鏡(FLIM)の結果を示した。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *センサ ,  電圧 ,  バイアス ,  分解能 ,  ディジタル方式 ,  *イメージセンサ ,  円筒 ,  電子技術 ,  画素 ,  微分 ,  力積 ,  充填率 ,  単一光子計数
準シソーラス用語： 暗計数率 ,  *単一光子アバランシェダイオード , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (4件)： CMOS技術 ,  相関 ,  SPAD ,  イメージセンサ