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J-GLOBAL ID：201902214649892014   整理番号：19A1809040

カルモジュリンによる高分子電解質多層の構築:中性子およびX線反射率研究【JST・京大機械翻訳】

Building Polyelectrolyte Multilayers with Calmodulin: A Neutron and X-ray Reflectivity Study

著者 (5件)： Cinar Sueleyman (Department of Chemistry and Chemical Biology, TU Dortmund University, Germany) ,  Moebitz Simone (Department of Chemistry and Chemical Biology, TU Dortmund University, Germany) ,  Al-Ayoubi Samy (Department of Chemistry and Chemical Biology, TU Dortmund University, Germany) ,  Seidlhofer Beatrix-Kamelia (Helmholtz-Zentrum Berlin, Germany) ,  Czeslik Claus (Department of Chemistry and Chemical Biology, TU Dortmund University, Germany)
資料名： Langmuir  (Langmuir)
巻： 33  号： 16  ページ： 3982-3990  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0231B  ISSN： 0743-7463  CODEN： LANGD5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ポリアニオンとしてカルモジュリン(CaM)を用いた高分子電解質多層の形成と機能特性を研究した。CAMはCa2+と小リガンド分子の結合により異なる立体配座状態を占めることが知られている。したがって,界面構造に及ぼす配位子分子としてのCa2+イオンとトリフルオラジン(TFP)の影響も調べた。最大配列PEI-(PSS-PAH)_x-CaM-PAHを有する多層膜をシリコンウエハ上に堆積させ,X線及び中性子反射測定により特性化した。すべてのデータの解析から,いくつかの顕著な結論を引き出すことができた。CaMを2回堆積させると,最初のCaM堆積段階よりもはるかに厚い副層が生成した。しかし,PAHによる洗浄では,非常に薄いCaM-PAH副層が残った。配位子TFPは強いCaM-PAH相互作用により多層ビルドアップに関与することができるという兆候はない。しかしながら,ホロ-CaMからのCa2+イオンの除去による多層膜厚の著しい増加と,Ca2+イオンによるアポ-CaMのその後の飽和による多層膜厚の等価減少があった。おそらく,CaMは,それが高分子電解質多層に埋め込まれた時,アポとホロ状態の間で依然としてtoえることができ,生物応答性界面を設計するためのアプローチを提供する。Copyright 2019 American Chemical Society All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 膜厚 ,  *カルモジュリン ,  相互作用 ,  *X線 ,  界面 ,  多層膜 ,  立体配座 ,  *中性子 ,  キャラクタリゼーション ,  *高分子電解質 ,  *多層
準シソーラス用語： ポリアニオン ,  シリコンウエハ ,  界面構造 ,  *X線反射率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 高分子固体のその他の性質  (CG02025L)

タイトルに関連する用語 (7件)： カルモジュリン ,  高分子電解質 ,  多層 ,  構築 ,  中性子 ,  X線反射率 ,  研究