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J-GLOBAL ID：201902215015590002   整理番号：19A2034092

走査電子顕微鏡における正確な電子チャネリングコントラストイメージングを用いたUO_2セラミック中の複雑な亜結晶粒界の転位解析【JST・京大機械翻訳】

Dislocation analysis of a complex sub-grain boundary in UO₂ ceramic using accurate electron channelling contrast imaging in a scanning electron microscope

著者 (7件)： Mansour H. (Universite de Lorraine, CNRS, Arts et Metiers Paris Tech, LEM3, F-57070, Metz, France) ,  Crimp M.A. (Chemical Engineering and Materials Science, Michigan State University, East Lansing, MI, 48824-1226, USA) ,  Gey N. (Universite de Lorraine, CNRS, Arts et Metiers Paris Tech, LEM3, F-57070, Metz, France) ,  Gey N. (Univ Lorraine, Lab Excellence Design Alloy Met Low MAss Struct D, F-57070, Metz, France) ,  Iltis X. (CEA, DEN, DEC, Cadarache, 13108, Saint-Paul-Lez-Durance, France) ,  Maloufi N. (Universite de Lorraine, CNRS, Arts et Metiers Paris Tech, LEM3, F-57070, Metz, France) ,  Maloufi N. (Univ Lorraine, Lab Excellence Design Alloy Met Low MAss Struct D, F-57070, Metz, France)
資料名： Ceramics International  (Ceramics International)
巻： 45  号： 15  ページ： 18666-18671  発行年： 2019年 
JST資料番号： H0705A  ISSN： 0272-8842  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,高分解能選択面積チャネルパターン(HR-SACP)により支援された正確な電子チャネルコントラストイメージング(A-ECCI)を用いて,クリープ変形二酸化ウラン(UO_2)セラミック中の複雑な低粒界の構造を特性化した。転位をTEM型g ・b=0とg ・b×u=0コントラスト基準を用いて特性化した。境界を横切るミスオリエンテーションを,0.04°精度と高精度EBSDを有するHR-SACPsを用いて測定した。境界は非対称で,異なる転位形態と0.5°以下のミスオリエンテーションを持つ2つの異なる領域から成る性質で混合されていると決定された。A-ECCI,HR-SACPおよびHR-EBSDの結果は一貫しており,走査電子顕微鏡を用いて複雑な転位構造を特徴付けるための強力なツールとしてA-ECCIを確認した。これは,この材料が非常に薄いので,UO_2にとって特に真であり,それは,数μmのスケールにわたるサブ境界のTEM検査を困難にする。さらに,本研究において,複雑な低角度亜粒界境界の呼気に沿った転位配列の変化は,境界を横切るミスオリエンテーションに関連している。Copyright 2019 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *亜結晶粒 ,  *セラミック ,  *コントラスト ,  *結晶粒界 ,  クリープ ,  呼気 ,  *走査電子顕微鏡 ,  キャラクタリゼーション ,  *電子チャネリング ,  *電子顕微鏡観察 ,  非対称性 ,  高分解能 ,  亜粒界
準シソーラス用語： 転位構造 ,  EBSD ,  ミスオリエンテーション , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (10件)： CとD ,  CREPT二酸化ウラン ,  B ,  亜結晶粒界構造 ,  B ,  走査電子顕微鏡 ,  B ,  正確な電子チャネリングコントラストイメージング ,  B ,  転位

分類 (2件)： 光化学一般  (CB08010U) ,  セラミック・陶磁器の製造  (YC03020V)

タイトルに関連する用語 (8件)： 走査電子顕微鏡 ,  電子チャネリング ,  コントラスト ,  イメージング ,  セラミック ,  亜結晶粒 ,  転位 ,  解析