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J-GLOBAL ID：201902215026162883   整理番号：19A0514582

脱焦点干渉粒子イメージングにおける粒子濃度同定のための試料採取体積と粒子数を決定するための新しい方法【JST・京大機械翻訳】

A New Method for Determining the Sampling Volume and the Number of Particles Within It for Particle Concentration Identification in Defocused Interferometric Particle Imaging

著者 (5件)： Zhang Hongxia (College of Precision Instrument and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Zhou Ye (College of Precision Instrument and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Liu Jing (College of Precision Instrument and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Jia Dagong (College of Precision Instrument and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin, China) ,  Liu Tiegen (College of Precision Instrument and Optoelectronics Engineering, Tianjin University, Tianjin, China)
資料名： IEEE Photonics Journal  (IEEE Photonics Journal)
巻： 9  号： 1  ページ： ROMBUNNO.6801015.1-15  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2436A  ISSN： 1943-0655  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 干渉粒子画像(IPI)は,粒子サイズと速度を測定するためのロバストな技術である。噴霧場の品質管理に一意的に価値のあるデフォーカスIPIにおいて,シートビームによりサンプリングされた体積中の粒子濃度を同定するための信頼できる方法は,優れたままである。本論文では,粒子濃度を形成するための試料採取体積内のデフォーカスIPIのサンプリング体積と粒子数の決定に対する新しいアプローチを提案した。サンプリング体積とサンプリング体積内の粒子数を決定するための方法を,従来のレイトレーシングと干渉測定原理を用いて導いた新しいセットの式で記録した。任意の定義された測定幾何学に対して,シートビームの横方向と高さ方向の寸法とデフォーカス距離が知られているとき,サンプリング体積が定量化される。サンプリング体積中の粒子数を,干渉円のサイズ範囲[Φ_Pix2,Φ_Pix1]の解析により,粒子がサンプリング体積内にあるか否かを決定することにより数えた。デフォーカスIPI中の粒子濃度を同定するための方法を,最初に,0.0040~0.239mm~3の範囲の異なる濃度で45μmの同じサイズの粒子,および10~90μmの範囲のサイズを持つ0.0119および0.119mm~3濃度の粒子について試験した。脱集束IPIにおける粒子濃度の定量化のためのこの新しい方法を,サイズ10,21.3,及び45μmの粒子の実験濃度に対してそれぞれ調べた。0.006mm~3の濃度を有する45μm粒子の最大実験誤差は10.4%であり,粒子濃度の増加とともに減少した。粒子濃度を同定するためのこの方法は,粒子分析がデフォーカスされたIPIによってレンダリングされる様々な領域に適用できると期待される。Copyright 2019 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 粒度 ,  噴霧 ,  レンダリング ,  画像 ,  画像処理 ,  ロバスト性 ,  幾何学 ,  光線追跡 ,  集束 ,  品質管理 ,  干渉測定 ,  *干渉
準シソーラス用語： デフォーカス ,  *粒子数 ,  *粒子濃度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 医用画像処理  (JE04020T)

タイトルに関連する用語 (8件)： 焦点 ,  干渉 ,  イメージング ,  粒子濃度 ,  同定 ,  試料採取 ,  体積 ,  粒子数