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J-GLOBAL ID:201902215757560084   整理番号:19S0601426

An improved method for lifetime prediction based on decoupling of the joule self-heating effect from coulombic degradation in accelerated aging tests of OLEDs

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資料名:
巻: 45  号:ページ: 642-645  発行年: 2014年 
JST資料番号: SCOPUS  ISSN: 0097-966X 
発行国: アメリカ (USA)  言語: 英語 (EN)

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