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J-GLOBAL ID:201902219238132591   整理番号:19A0876846

DCコロナ放電プラズマによる低濃度チオフェンの除去【JST・京大機械翻訳】

Removal of low-concentration thiophene by DC corona discharge plasma
著者 (7件):
資料名:
巻: 26  号:ページ: 1606-1614  発行年: 2019年 
JST資料番号: W4325A  ISSN: 0944-1344  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: ドイツ (DEU)  言語: 英語 (EN)
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本研究は,DCコロナ放電プラズマを用いたC_4H_4Sの除去に焦点を合わせた。C_4H_4S濃度(ppm),温度(°C),O_2濃度(%),および塵埃濃度(mg/m3)などの様々な因子が,C_4H_4Sの変換に及ぼす影響を研究した。さらに,ガス組成をFourier変換赤外(FTIR)分光法を用いて測定した。地球と放電電極から収集した固体生成物をX線回折(XRD)を用いて分析した。結果は,DCコロナ放電プラズマの条件下で,C_4H_4SがCO,CO_2,S,SO_2,およびSO_42-に変換し,転化率が比入力エネルギー(SIE)の増加とともに増加することを示した。O_2濃度の増加は,O_3を発生させる更なるエネルギー消費をもたらした。それは,次に,C_4H_4Sの転化率を減少させた。SIEが268J/L未満のとき,温度の上昇はC_4H_4Sの変換に正の影響を示した。しかし,SIEのこの値以上では,温度はSIEの増加と共にC_4H_4Sの転化率に負に影響した。ダストが導入されたとき,C_4H_4Sの変換は著しく改善され,SO_2の収率は,電場中のC_4H_4S,SO_2,および塵埃の間で起こった反応のために減少した。結果は,DCコロナ放電プラズマが,C_4H_4Sを除去するかなりの可能性を示し,一方,塵埃は,C_4H_4Sの処理に対して,積極的に寄与したことを示した。本研究では,DCコロナプラズマを用いて,ダスト含有ガス流からチオフェン(C_4H_4S)を除去した。結果は,電子衝突,ラジカルの酸化性,およびO_3の存在が,C_4H_4S分解の主原因であることを示した。電子衝突効果,ラジカルの含有量,O_3,およびC_4H_4Sの変換率は,SIE(比入力エネルギー)の増加によって強化された。主生成物は,CO,CO_2,SO_2,および固体生成物から成った。固体生成物と塵埃は電場中で地球電極に移動した。Copyright 2018 Springer-Verlag GmbH Germany, part of Springer Nature Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
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その他の汚染原因物質  ,  産業衛生,産業災害  ,  植物に対する影響 
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