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J-GLOBAL ID：201902219365138452   整理番号：19S0498282

Optical characterization by variable angle spectroscopic ellipsometry of nitrogen-doped MgxZn1 - XO thin films prepared by the plasma-assisted reactive evaporation method

著者 (16件)： Abe, Takami (Iwate University) ,  Nakagawa, Akira (Iwate University) ,  Nakagawa, Michiko (Iwate University) ,  Chiba, Tetsuya (Iwate University) ,  Takahashi, Shuzo (Iwate University) ,  Chiba, Shigeki (Iwate University) ,  Ojima, Tsutomu (Iwate University) ,  Aota, Katsumi (Iwate University) ,  Daibo, Masahiro (Iwate University) ,  Osada, Hiroshi (Iwate University) ,  Fujiwara, Tamiya (Iwate University) ,  Niikura, Ikuo (Iwate University) ,  Kashiwaba, Yasube (Iwate University) ,  Kashiwaba, Yasuhiro (Sendai National College of Technology) ,  Tsutsumi, Kouichi (J.A. Woollam Japan Corporation) ,  Suzuki, Michio (J.A. Woollam Japan Corporation)
資料名： Thin Solid Films
巻： 571  号： P3  ページ： 615-619  発行年： 2014年 
JST資料番号： SCOPUS  ISSN： 0040-6090  CODEN： THSFA 
発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)