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J-GLOBAL ID：201902219979055719   整理番号：19A0027446

陽電子ビームの高エネルギー偏光測定【JST・京大機械翻訳】

High energy polarimetry of positron beams

著者 (1件)： Gaskell D. (Thomas Jefferson National Accelerator Facility, Newport News, VA, 23606, USA)
資料名： AIP Conference Proceedings  (AIP Conference Proceedings)
巻： 1970  号： 1  ページ： 050003-050003-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0071C  ISSN： 0094-243X  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： MollerとCompton偏光測定は,Jefferson Labでの高エネルギー電子偏光測定に用いられる主要技術である。原理的に,両技術は陽電子偏光測定にも使用できる。しかしながら,既存のデバイスの構成および/または動作モードへのいくつかの修正は,Jefferson Labで現在考慮されている陽電子ビームのタイプを用いるために必要とされるであろう。本論文の著者の要請と会議編集者の承認において,本論文の更新版は,2018年6月4日に発表された。AIP Publisingに供給されたオリジナルの論文は,方程式3と5における平方根記号を誤って含んだ。これらの誤差は更新された論文と再発行された論文で補正されている。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *偏光測定 ,  *陽電子ビーム ,  *陽電子

分類 (2件)： 宇宙線・天体物理観測技術  (DB01000N) ,  光子による反応・散乱  (BG04020R)

タイトルに関連する用語 (3件)： 陽電子ビーム ,  高エネルギー ,  偏光測定