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J-GLOBAL ID：201902220421364482   整理番号：19A2873855

人工および自然雷による太陽電池モジュールのための故障バイパスダイオードの特性【JST・京大機械翻訳】

Characteristics of Failed Bypass Diodes for Photovoltaic Module by Artificial and Natural Lightning

著者 (6件)： Hamada Toshiyuki (National Institute of Technology, Ube College, Ube, Yamaguchi, Japan) ,  Nakamoto Kenta (National Institute of Technology, Ube College, Ube, Yamaguchi, Japan) ,  Nanno Ikuo (National Institute of Technology, Ube College, Ube, Yamaguchi, Japan) ,  Ishikura Norio (National Institute of Technology, Yonago College, Yonago, Tottori, Japan) ,  Oke Shinichiro (National Institute of Technology, Tsuyama College, Tsuyama, Okayama, Japan) ,  Fujii Masayuki (National Institute of Technology, Oshima College, Suooshima, Yamaguchi, Japan)
資料名： Lecture Notes in Electrical Engineering  (Lecture Notes in Electrical Engineering)
巻： 598  ページ： 1218-1224  発行年： 2020年 
JST資料番号： W5070A  ISSN： 1876-1100  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 近年,光起電力(PV)モジュールにおけるバイパスダイオード(BPDs)は光誘起サージのために失敗し,BPDのバーンアウトも発生している。本研究では,PVモジュールにおけるBPDsの特性を研究し,最も可能性のある故障の原因として光誘起サージがあることを示した。BPDsの人工雷試験を行った。そして,自然雷によって失敗したそれらのBPDsと故障特性を比較した。結果として,雷誘導サージに曝露されたSchottky障壁ダイオード(SBD)は,故障抵抗が雷サージ振幅の増加に逆比例して減少する短モード故障を示すことを確認した。また,自然雷によって損傷されたPVモジュールにおけるBPDが短いモードまたは開放モードで失敗することを確認した。BPDが短いモードで故障するとき,バイパス回路で発生する循環電流は発熱と着火のリスクを増加させる。Copyright 2020 Springer Nature Switzerland AG Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 光起電力 ,  雷サージ ,  バーンアウト ,  *太陽電池 ,  Schottky障壁ダイオード ,  *故障
準シソーラス用語： 光誘起 ,  *バイパスダイオード , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (6件)： 雷誘起サージ ,  バイパスダイオード ,  Schottky障壁ダイオード ,  太陽電池モジュール ,  人工雷 ,  自然雷

分類 (1件)： 太陽光発電  (NB03090G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 人工 ,  雷 ,  太陽電池モジュール ,  故障 ,  バイパスダイオード