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J-GLOBAL ID：201902220709726019   整理番号：19A1064171

電極浸食からの微粒子の脱離とその後の破壊【JST・京大機械翻訳】

Detachment of microparticles from electrode erosion and the subsequent breakdown

著者 (3件)： Zhong Wei (State Key Laboratory of Electrical Insulation and Power Equipment, Xi’an Jiaotong University, Xi’an 710049, China) ,  Zhang Guoliang (Institute of Electronic Engineering, China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China) ,  Xu Ao (Institute of Electronic Engineering, China Academy of Engineering Physics, Mianyang 621999, China)
資料名： AIP Advances (Web)  (AIP Advances (Web))
巻： 9  号： 4  ページ： 045023-045023-6  発行年： 2019年 
JST資料番号： U7121A  ISSN： 2158-3226  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電極浸食に起因して,微粒子はガススイッチにおいて一般的で不可避である。これらの微粒子が電場誘起電荷を獲得し,ギャップにフリートすると,マイクロ放電,衝撃損傷,および電界歪が発生し,最終的に望ましくない電気的破壊を引き起こす。本論文は,最初に,接触圧に基づく微粒子の分離基準を紹介して,振動の下での微粒子の分離判定基準について議論した。結果は,より大きな微粒子がより容易に分離でき,剥離基準が振動と作動係数により強く影響されることを示した。次に,以前の実験結果と組み合わせて,分離した微粒子によってどのように破壊が誘起されるかを,電界電子放出に基づいて議論した。結果は,強い振動を受けるとき,これらの荷電微粒子が電極表面から分離され,電界放出源として作用し,最終的にスイッチの望ましくない電気的破壊を点火することを示した。Copyright 2019 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *微粒子 ,  *脱着 ,  電界放出 ,  *浸食 ,  判定基準 ,  電場 ,  電荷 ,  スイッチ ,  接触圧
準シソーラス用語： 電極表面 ,  衝撃損傷 ,  マイクロ放電 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (4件)： 浸食 ,  微粒子 ,  脱離 ,  破壊